TOEIC® Analyst + MP3 CD

Skrócony opis

TOEIC® Analyst + MP3 CD Poziom: B1+ - C1+ TOEIC®: 700-1000 TOEFL® iBT: 50-100 TOEIC® Analyst, 2nd Edition to książka przeznaczona dla osób przygotowujących się do egzaminu TOEIC®. Skupia się przede wszystkim na prezentacji i analizie...

Informacje dodatkowe :

  • Producent: Compass Publishing
94.90 PLN
Ilość :


TOEIC® Analyst + MP3 CD

Poziom: B1+ - C1+
TOEIC®: 700-1000
TOEFL® iBT: 50-100

TOEIC® Analyst, 2nd Edition to książka przeznaczona dla osób przygotowujących się do egzaminu TOEIC®. Skupia się przede wszystkim na prezentacji i analizie typowych dla egzaminu TOEIC® rodzajów zadań oraz na rozwijaniu skutecznych strategii ich rozwiązywania

• Poziom trudności książki odpowiada rzeczywistemu poziomowi egzaminu,
• Zawiera ponad 700 pytań,
• Podział materiału przebiega z uwagi na konkretne rodzaje zadań, dzięki czemu kształtuje umiejętność doboru właściwej strategii i pozwala uniknąć często popełnianych błędów,
• Zawiera 2 kompletne testy symulujące aktualne testy TOEIC®,
• Transkrypcje i odpowiedzi w zestawie.

Autor: Anne Taylor
220 + 16 stron
ISBN 9781599665962

Dodatkowy komponent książki w postaci kluczy / transkrypcji stanowi jej integralną część z możliwością swobodnego i wielokrotnego odczepienia go od okładki i późniejszego ponownego scalenia z książką. To nowatorskie i praktyczne rozwiązanie stosowane przez Compass Publishing.

TOEIC® Analyst + MP3 CD

LEVEL: Advanced
TOEIC®: 500-840
TOEFL® iBT: 50-100

TOEIC® Analyst, 2nd Edition is designed to prepare students for the TOEIC® test through analysis of common TOEIC® question types and strategies for approaching each question.

Features:
• At the TOEIC® level and contains more than 700 questions
• Units are organized by question type and provide practice for students to quickly recognize test tasks and avoid common mistakes
• Includes 2 complete practice tests that simulate the actual TOEIC® test

By Anne Taylor
220 + 16 pages
ISBN 9781599665962

Jeśli zawartość tej zakładki nie wyświetla się poprawnie, kliknij tutaj, by otworzyć ją w nowym oknie.

Aby przeglądać zawartość tej zakładki, należy się zalogować.